在基于硬件的测试方法中，与模型精度及因而该方法适应给定时序尺度有关的成本因素不再构成问题。实际上，与粗尺度的时序要求相比，细微尺度的时序要求并不会增加附加计算成本。

但是，基于硬件的测试方法的缺点是不够灵活，特别体现在控制执行测试、监控以及故障注入的局限性和高成本上（例如为了能够复现特定故障注入而需要昂贵的特殊专门仪器^[13]）。

基于硬件的测试方法的更大的缺点是：通常在开发生命周期的晚期才有可能进行最后的目标硬件测试。这就要求要么在原型机（它们也有自己的制造缺陷）上进行测试，要么将测试推迟到整个硬件都生产出来后。这两种方法都会使成本增加，原因要么是因为在不成熟的硬件上测试，要么是因为检测到研发错误太晚，因而在找出缺陷后对其进行修复的成本高造成的。(www.daowen.com)

正如上面所述，有两种可以用来进行基于硬件测试的方法：开环测试和闭环测试。一个功能性测试的案例，它需要基于闭环的测试，是复杂的通信服务，例如TP、NM和诊断通信管理。这些服务中的每一个都或多或少执行了复杂的通信协议，且要求在发送器和接收器处都要有状态机，其中状态转变是由接收和/或发送的消息来触发。如果没有可能对DUT测试响应做出反应，那么就不可能在测试平台上实施这种复杂的通信协议。另一种案例是分布式控制环路的测试，其中DUT作为参与到控制环路的ECU之一。和那些复杂的通信协议一样，分布式控制环路要求测试平台必须具备对DUT的响应做出反应的能力，且它使得开环方法对于这些情况是表现不足的。

总之，闭环测试方法比开环方法成本更高（由于需要更多的计算资源，且测试设备本身需要很精密地设计和研发）。因此，实际上使用闭环和开环方法的组合。闭环测试方法仅在系统成功地完成了更廉价的测试（即开环测试）的情况下使用。