本次试验主要采用太原理工大学和中国工程物理研究院应用电子学研究所共同研制的μCT225 k VFCB型高精度（μm级）显微CT试验分析系统。CT试验分析系统主要由数字平板探测器、微焦点X线机、高精度的工作转台及夹具、采集分析系统等结构部分组成，如图4-1所示。CT扫描系统的数字平板探测器的大小为500 mm×367 mm×47 mm，该系统的扫描成像窗口为406 mm×293 mm（3 200×2 304个探元），其有效窗口为406 mm×282 mm（3 200×2 232个探元），探元尺寸为0.127 mm。

图4-1　μCT225 k VFCB型高精度显微CT试验分析系统

CT技术是通过计算机图像重建，使指定层面上不同密度的材料信息以高分辨率的数字图像显示出来。在X线穿透物质的过程中，其强度呈指数关系衰减，物质的密度是由物质对X线的衰减系数来体现的，不同物质对X线的吸收系数不同，在X线穿透被检测物体时，它的光强遵循下述方程：

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式中I——X线穿透物体前的光强；

I 0——X线穿透物体后的光强；

μm——被检测物体单位质量的吸收系数，在一般情况下μm只与入射X线的波长有关；

ρ——物质密度；

χ——入射X线的穿透长度，在CT重建图片上，物质密度越大，图像上的亮度就越高，表现为白色；而孔隙和裂隙的密度最小，表现为黑色。