1.直接通电法

轴类工件直接通电法依据工件的直径选取磁化电流。

连续法：I=（12～32）D （2-21）

剩磁法：I=（25～45）D （2-22）

式中 I——磁化电流（A）；

D——工件直径（mm），对于非圆柱工件。

在连续法中，对一般高磁导率材料（μ>200）的开口缺陷，磁化电流限于（12～20）D；用于检测夹杂类非开口缺陷或低磁导率材料的缺陷时采用（20～32）D，甚至可以突破此限，高达40D。

图2-27 偏置中心导体法(www.daowen.com)

当工件直径有大于30%的变化时，应分段选用磁化规范，磁化时按先小后大的顺序进行。

2.中心导体法

中心导体法分为同心放置和偏心放置两种。同心放置时，工件和中心导体的中心接近于重合，这时的磁化电流仍按式（2-21）、式（2-22）选取。偏心放置时工件和导体有较大的偏心距，如图2-27所示，中心导体贴近内壁。其磁化电流在按式（2-21）、式（2-22）给出时，注意工件的直径D应为中心导体的直径与工件的2倍壁厚之和。并且这是一种沿周向分段磁化的方法，每次有效磁化长度是中心导体的4倍，检测时应绕中心导体转动工件，分段检查全部周长，每次应有约10%的有效磁场重叠区，以免漏检。

3.支杆法

用支杆法磁化时，其磁化场强度随支杆的间距和工件的厚度而变化，当支杆间距L为150～200mm，工件壁厚分为两挡时，其磁化规范（连续法）按表2-1计算。

表2-1 支杆法磁化规范