理论教育 PIN二极管结构及正、负偏置效应分析

PIN二极管结构及正、负偏置效应分析

时间:2023-06-28 理论教育 版权反馈
【摘要】:当PIN正向偏置时,可以认为两个结都是正偏置。当PIN二极管反向偏置,即阳极接负电压,阴极接正电压,此时PIN二极管的行为非常像一个简单的PN结,存在反向饱和电流。但是当PIN二极管正向偏置时,其行为跟简单的PN结有很大差别。这样,PIN二极管的电流大小在很大程度上取决于本征区的复合率。温升对PIN二极管的正向压降的影响相当复杂。图3-27 PIN二极管的正向偏置 电流-电压曲线图3-28 某PIN二极管正向偏置 电流-电压曲线

PIN二极管结构及正、负偏置效应分析

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图3-24 PIN二极管结构图

从上一节PN结的雪崩击穿分析可以知道,要想得到高阻断电压的PN结器件,P区或N区必须有一侧是轻掺杂区。在实际应用中,对于高压的半导体,比如耐压大于10kV,一般采用轻掺杂N型,即N-,主要原因有两个:

1)工艺上更可行;

2)在给定的电压等级下,P+N结比PN+结厚度小,这点非常重要,厚度的增加会使器件的损耗增加。

所以使用P+N结是制作高压二极管好的选择,然而在实际应用作用,轻掺杂的N型半导体与金属连接会产生较大的接触电阻,这在高电流密度的电力半导体器件中是不可接受的。一种解决办法是构造如图3-24所示的P+NN+结,此时重掺杂区N+跟金属的接触电阻就非常低了。从本质说,PIN二极管是多PN结器件,具有P+N和NN+两个结,在N区的两侧都是重掺杂区。

当PIN正向偏置时,可以认为两个结都是正偏置。如上一节所述,由于PN结的正向注入效应(少子注入效应),P+的空穴被注入到N区,同样N+电子也被注入到N区。在N区,所注入的空穴和电子浓度比本地的平衡多子浓度还要高出许多倍,这样的过剩载流子改变了N区的导电行为。此时N区掺杂原子自己的空穴和电子不再对其导电行为有显著影响作用,就像此区域内没有掺杂一样,即表现的像本征(intrinsic)半导体,这就是PIN二极管中的字母“I”的由来。

一个PIN二极管中的物理过程,包括能带分布、载流子浓度和电流密度与电压关系等的计算是十分复杂的,其中还涉及许多在普通PN结中忽略的物理现象,所以在PIN二极管的行为分析时,使用非常简化的模型,且只能在一定程度上进行近似。

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图3-25 PIN二极管的能带图

一个平衡条件下的PIN二极管的能带图如图3-25所示,PIN二极管是三层两结结构,存在两个结,即J1和J2。中间的区域掺杂浓度很低,在工作时表现为本征特性,在简化的模型中,也可以认为其在没有偏置的情况下也是本征的(毕竟没有偏置的器件在电力变换器中是不发挥作用的,器件绝大部分时间都工作在正偏置和反偏置的情况下),也可以认为在此区域内同时掺杂了浓度为ni的施主和受主原子。则在中间的本征区内有

n=p=ni (3-17)

此时在J1和J2结上会产生自建电场,形成空间电荷区,而两个结的势垒接触电压分别为

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式中NAND——P+和N+区的受主和施主原子浓度。

当PIN二极管反向偏置,即阳极接负电压,阴极接正电压,此时PIN二极管的行为非常像一个简单的PN结,存在反向饱和电流。但是当PIN二极管正向偏置时,其行为跟简单的PN结有很大差别。

经过简化的正向偏置PIN二极管中的载流子分布如图3-26所示。施加正向偏置到PIN二极管后,J1和J2结的势垒减小了,载流子的漂移运动被削弱,P+ N结处空穴被注入到N区,电子被注入到P+区。如果认为此结是理想的突变结,注入效率γ=1,则可以忽略从N区注入到P+区的电子,通过J1的电流全是空穴电流。同样,也可以认为通过J2的电流全是电子电流。(www.daowen.com)

从两边重掺杂区注入的空穴和电子无法通过另外一个结,即通过J1注入的空穴无法通过J2,通过J2注入的电子无法通过J1。空穴和电子必须在中间的本征区内复合,本征区中的载流子浓度会逐渐增大,直至复合率能够平衡流入的与流出的电子和空穴流之差。同时,载流子浓度间微小的不平衡足以导致电场发生改变。这样,PIN二极管的电流大小在很大程度上取决于本征区的复合率。

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图3-26 正向偏置PIN二极 管中的载流子分布

如果假设正向偏置PIN二极管内本征区内的载流子浓度是均匀的(即本征区的宽度比载流子的扩散长度小得多),同时认为两侧高掺杂区的杂质原子浓度相等(NAND相等),外加的偏置电压被两个结均分。则可以推导出PIN二极管正向偏置时电压和电流密度的关系为

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式中 ni——本征载流子浓度;

Wi——本征区宽度;

τ——载流子寿命。

实际上,PIN二极管伏安特性的计算要复杂得多,需要考虑的因素也很多,比如外加的偏置电压在两个结上的比例并不相等,还有一部分加在中间的本征区;本征区内的载流子分布不是均匀相等。一般说来,一般的PIN二极管(即功率二极管)的正向电流-电压特性可以表示为

UF=k0+k1lnJ+k2Jm (3-21)

其中,系数m的典型值在0.6~0.8之间;系数k0k1k2依赖于温度和二极管结构的特征参数,如载流子寿命、掺杂浓度和各层的厚度等。为方便电路分析,经常会用一个阈值电压UF0微分电阻Ron来表征二极管的电流-电压特性,如图3-27所示。这种近似下计算器件的参数(如损耗)很方便,同时可以对不同类型的二极管进行简单的比较。

温升对PIN二极管的正向压降的影响相当复杂。因为本征载流子浓度随温度升高而增加,所以在两个结上的压降会随温度的升高而减低,就如简单的PN结特性一样。但是在PIN二极管中,本征区内的载流子的迁移率会随着温度的升高而降低,本征区上的压降增加,但是载流子寿命又会增加一些,抵消一部分迁移率带来的影响。所以对于一些PIN二极管来说,不同温度的电流-电压曲线会出现交点,如图3-28所示。在小电流密度下,压降随温度升高而减小,但在大电流密度下随温度升高而增大。

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图3-27 PIN二极管的正向偏置 电流-电压曲线

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图3-28 某PIN二极管正向偏置 电流-电压曲线

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