1.与非门电路

74系列的7400和4000系列的4011都是4个二输入端与非门封装在一起的数字集成电路产品，其内部结构和外部引脚信号如图4-45所示。

图4-45 7400和4011内部结构和外部引脚信号

【边学边练】

测试与非门的逻辑功能可选用74系列的7400（或4000系列的4011），任选用7400数字芯片中的1个与非门，给与非门的两个输入端各接一个输入逻辑电路，输出端接逻辑电平显示器（或用万用表的10V直流电压挡监测），再给电路接通电源，如图4-46a所示。按与非逻辑真值表，变换输入电平的组合状态，就可以检测TTL与非门的逻辑功能，画出电压波形，如图4-46b所示。

图4-46 测试7400的与非门逻辑功能

2.或非门电路

74系列的7402和4000系列的4001都是4个二输入端或非门封装在一起的数字集成电路产品，其内部结构和外部引脚信号如图4-47所示。

图4-47 7402和4001内部结构和外部引脚信号

注意两种芯片中与非门的输入、输出信号位置的不同。

图4-48 测试7402的或非门逻辑功能

【边学边练】

测试或非门的逻辑功能可用74系列的7402(或4000系列的4001)．任选用7402数字芯片中的1个或非门，给或非门的两个输入端各接一个输入逻辑电路，输出端接逻辑电平显示器（或用万用表的10V直流电压挡监测），再给电路接通电源，如图4-48a所示。按或非逻辑真值表，变换输入电平的组合状态，就可以检测TTL或非门的逻辑功能，画出电压波形，如图4-48b所示。

3.与或非门电路(www.daowen.com)

74系列的7451和4000系列的4085都是双与或非门数字集成电路产品，其内部结构和外部引脚信号如图4-49所示。

图4-49 7451和4085内部结构和外部引脚信号

【边学边练】

测试与或非门的逻辑功能可用74系列的7451（或4000系列的4085），给与或非门的4个输入端各接1个输入逻辑电路，输出端接逻辑电平显示器（或用万用表的10V直流电压挡监测），再给电路接通电源，如图4—50a所示。按与或非逻辑真值表，变换输入电平的组合状态，就可以检测TTL与或非门的逻辑功能，画出电压波形，如图4—50b所示。

图4-50 测试7451的与或非门逻辑功能

4.异或门电路

74系列的7486和4000系列的4030都是4个二输入异或门封装在一起的数字集成电路产品，其内部结构和外部引脚信号如图4-51所示。

图4-51 7486和4030内部结构和外部引脚信号

【边学边练】

测试异或门的逻辑功能可用74系列的7486（或4000系列的4030），选用7486中的一个异或门，给异或门的两个输入端各接一个输入逻辑电路，输出端接逻辑电平显示器（或用万用表的10V直流电压挡监测）．再给电路接通电源，如图4-52a所示。按异或逻辑真值表，变换输入电平的组合状态，就可以检测TTL异或门的逻辑功能，画出电压波形，如图4-52b所示。

图4-52 测试7486的异或门逻辑功能

按有无记忆性划分，数字逻辑电路可为两个大类，无记忆性的称为组合逻辑电路，有记忆性的称为时序逻辑电路。基本逻辑门电路和复合门电路都是构成各类组合逻辑电路和时序逻辑电路的基本单元。

集成电路化、成品化的数字逻辑电路不断扩展新功能产品和新型封装形式，微型化、高速化、低功耗已是数字集成电路发展的定局。