为了减小器件的功率损耗，在实际使用中，可采用软开关技术，即通过改变电路结构来达到降低开关损耗的目的。下面对比说明硬开关和软开关技术的区别。

1.硬开关

硬开关在开关过程中，电压、电流均不为零，出现了重叠，有显著的开关损耗。由于电压和电流变化的速度很快，波形出现了明显的过冲，因而产生了开关噪声。并且开关损耗与开关频率之间呈线性关系，因此，当硬开关电路的工作频率不太高时，开关损耗占总损耗的比例并不大，但随着开关频率的提高，开关损耗就越来越显著。图9-48给出了硬开关在开关过程中的电流i（t）和电压u（t）及功耗p（t）的变化曲线。可见，在开通过程中，器件中的电流有明显的过冲；在关断过程中，器件两端的电压有明显的过冲，由此导致开通和关断过程出现较大的开关功耗。由此可见，电力半导体器件的硬开关过程存在上述三个弊端：开关功耗大、开关频率受限、di/dt和du/dt对主开关器件形成过电流或过电压冲击并产生电磁干扰。

图9-48 硬开关在开关过程中的电流、电压及功耗的变化曲线

2.软开关(www.daowen.com)

为了避免或消除硬开关的弊端，提出了软开关的概念，即通过在电路中引入谐振，使主开关器件在开通或关断过程中的功耗近似为零。软开关包括零电压开关（Zero Voltage Switch，ZVS）和零电流开关（Zero Current Switch，ZCS）两类。它们既可以用于开通，也可以用于关断。零电压开关指在开关过程中电压为零或接近于零；零电流开关指在开关过程中电流为零或接近于零。图9-49给出了在软开关过程中的电流i（t）和电压u（t）及功耗p（t）的变化曲线。可见，在开通之前，器件两端的电压已经下降到零，因此开通功耗为零；在关断之前，器件中的电流已经减小到零，因此关断功耗为零。

图9-49 在软开关过程中的电流和电压及功耗的变化曲线

可见，采用软开关技术，通过在电路中引入谐振，改善了主开关器件的开关条件，大大降低了硬开关电路的开关损耗和开关噪声问题。与吸收电路的不同之处在于，软开关技术是利用电感和电容对主开关器件的轨迹进行整形，真正减小开关损耗，而不是将开关损耗转移到吸收电路来消耗掉。

采用软开关技术和吸收电路都是为了降低器件功耗，不同的是软开关技术是采取“堵”的方法抑制di/dt和du/dt，吸收电路则是采取“疏通”的方法吸收di/dt和du/dt，并将吸收的能量反馈至电源或负载中。相比较而言，吸收电路比软开关技术更有发展前景。