在超高真空条件(<10-8Pa)下,通过脆性晶体的解理(cleavage)、分子束外延及离子的多次轰击和退火等途径,我们可获得清洁表面。在实验室获得的清洁表面上,杂质分数小于10-3。在理论研究中,人们常认为清洁表面上没有任何吸附物。而通常环境中的材料,其表面的结构却非常复杂,因为它会吸附周围的物质来降低表面能,而且还存在各种缺陷,如点缺陷、线缺陷等,如图5.8所示。图5.8为晶体表面的TLK(Terrace-Ledge-Kink)模型。该模型展示了晶体表面存在的平台(terrace)、吸附原子(adatom)、台阶(step)、扭折(kink)、台阶吸附原子(step-adatom)和空位等缺陷。
1.台阶表面
没有任何吸附物的台阶表面也称为清洁表面,这种表面也能发生弛豫或重建。人们已经在Pt、Cu、Si、ZnO和GaAs的某些晶面上观察到了台阶表面。图5.8表明台阶ABC在一维方向的尺寸较另外二维方向的尺寸大得多,故把它看成是表面上的一种线缺陷。台阶连接了其两边的平整晶面(即平台)。
表面台阶会导致表面产生高Miller指数的晶面。图5.9示意了简单立方晶体中,台阶与高指数晶面的关系。坐标原点设在C点,x轴垂直于纸面,则图中AB、CD、EF为(001)晶面,对应图5.8中的平台。BC、DE为台阶,晶面指数为(010)。虚线BDF为台阶表面。由2.6.4节的方法,BDF的晶面指数为(014)。(014)晶面的法线n2与(001)晶面的法线n1之夹角为θ。
图5.8 晶体表面结构缺陷示意图(引自Bechstedt,2007)
图5.9 简单立方晶体二维台阶面投影图(CD、BDF所在晶面皆与纸面垂直。n1、n2分别是CD、BDF晶面的法线)(引自Bechstedt,2007)
台阶表面也可用一定的符号表示。其表示方法为
式中,S为基底材料化学式;s为台阶step的首个字母;m表示平台(hkl)晶面的宽度为m个原子列;n表示台阶晶面(h′k′l′)的高度为n个原子层。若原子(层)数为1,则不写数字。图5.10为面心立方Pt(111)面上的一种台阶表面。其表示符号为Pt(s)-[6(111)×(001)]。平台(111)晶面的宽度为6个原子列,如图5.10(b)所示。BD所在晶面为台阶晶面(001),其高度为1个原子层(即BE与AD的垂直距离为一个原子尺寸)。虚线ABC为台阶表面,其晶面指数为(557)。(111)面的法线与(557)面的法线之夹角为9.4°。表5.2列出了Pt部分台阶表面及其晶面指数。除Pt以外,其他台阶表面比如Ru(s)-[15(001)×2(100)]等台阶表面。(www.daowen.com)
图5.10 Pt(s)-[6(111)×(001)]台阶表面及结构[(b)是(a)的侧视图](引自Bechstedt,2007)
除了台阶这种表面线缺陷外,位错也会在表面出现。在第4章我们已经知道位错线只能中止于晶体表面或晶界处,故位错往往在单晶体表面露头。而螺位错在表面的露头则形成台阶,刃位错的露头则导致表面点缺陷的产生。
表5.2 Pt台阶表面的获得及其晶面指数(引自曹立礼,2007)
2.表面点缺陷
与晶体内部一样,晶体表面也存在如空位、杂质、置换和间隙原子等点缺陷。图5.11示意了单质和二元化合物晶体的表面点缺陷。
图5.11 表面点缺陷示意图(引自Bechstedt,2007)
(a)为单质晶体的理想表面;(f)为二元化合物晶体的理想表面;(b)(g)(k)为杂质置换;(c)(h)(l)为表面空位;(d)(e)(i)(m)为间隙原子缺陷;(j)(n)为A、B原子的错位缺陷
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