理论教育 上层芯片的制作与优化方法

上层芯片的制作与优化方法

时间:2023-06-18 理论教育 版权反馈
【摘要】:④在加热台上于70℃加热固化45min。揭下,即得到上层芯片。图5.11 上层芯片结构B烟气暴露后细胞ROS荧光图图5.12 上层芯片结构C烟气暴露后细胞ROS荧光图综上所述,可知只有结构C的上层芯片能够实际实现芯片上烟气梯度的暴露。此上层芯片对于气体而言可形成良好的线形变化,可用于烟气刺激细胞实验。

上层芯片的制作与优化方法

(1)制作方法 首先采用激光雕刻技术制作模具,然后采用聚二甲基硅氧烷(PDMS)倒模技术制作芯片。制作流程如下:

过程如下所述:

①在一片洁净的玻璃片上,依次贴12层PET绿胶带(60μm/层),紧密贴合,防止气泡产生。

②使用激光雕刻机,按设计的图形结构进行雕刻,去除多余部分,得到模板。

③将未固化的聚二甲基硅氧烷(PDMS前聚体∶固化剂=10∶1),铺到上层芯片模板上,真空抽气10min以除去气泡。

④在加热台上于70℃加热固化45min。揭下,即得到上层芯片。

⑤使用打孔器在芯片上相应位置打孔,即可用于使用。

(2)设计与选择 芯片上气体梯度形成原理:两路气体自由扩散,相互稀释。根据这个原理,实验过程中共设计了以下三种上层芯片结构,如图5.8所示。

图5.8 上层芯片设计结构图

烟气,空气)

如图5.8(1)结构所示,上面黑色箭头处通烟气,绿色箭头处通空气,两路气体依靠自由扩散作用在中间相通的气体通道中形成烟气梯度,从而对下面中间层上的细胞进行暴露;如图5.8(2)结构所示,黑色箭头处通入烟气,在3个拐角处通入空气,这样可以对烟气进行逐步稀释,从而达到形成梯度的目的;如图5.8(3)结构所示,同图5.8(1)结构类似,上面黑色箭头处通烟气,绿色箭头处通空气,区别在于这种结构使烟气能够从中间层细胞上方通过,进行直接暴露。

为验证这三种芯片结构是否可形成梯度,并保证一定的烟气暴露量。对三种芯片形成的气体梯度以及实际烟气暴露量进行表证。

气体梯度表征,由于烟气不具有明显的颜色,且也无法使溶液发生明显的变化,因此在实验过程中使用二氧化碳气体,结合溴百里酚蓝的碱性溶液作为指示剂来指示气体梯度的形成[33]。该方法的原理:溴百里酚蓝在碱性条件下呈蓝色、酸性条件下呈黄色。溴百里酚蓝的碱性溶液在二氧化碳气体的作用下会逐渐趋向酸性,从而颜色会发生从蓝色到黄色的转变。对凝胶颜色变化过程进行监控至达到稳定状态。

烟气暴露量表征,采用荧光探针DHE染色法,通过倒置荧光显微镜下观察细胞ROS变化情况,该荧光染料,使用绿光激发得红色荧光,荧光强度的大小与细胞内ROS的量呈正相关,据此判断烟气暴露量。(www.daowen.com)

芯片结构A:气体梯度表征结果如图5.9所示。由图可看出,凝胶颜色呈现由蓝色到黄色的梯度变化,说明该芯片结构可以实现气体梯度的形成。烟气暴露结果如图5.10所示。左侧[(1)~(4)] 通的是烟气,右侧[(13)~(16)] 通的是空气,两边细胞ROS荧光强度没有明显差异,无荧光强度的梯度变化。因此,A结构芯片,可以形成梯度,但是这种气体梯度效果没有在使用烟气暴露的实验过程中表现出来,说明烟气剂量不足,并且在这种结构中,烟气靠扩散至细胞表面,没有与细胞直接接触,与细胞暴露烟气的实际状况不相符合。因此,这种结构不能用于下面细胞烟气暴露实验研究。

图5.9 上层芯片结构A气体梯度表征图

图5.10 上层芯片结构A烟气暴露后细胞ROS荧光图

B结构芯片,从进口处通入烟气,在S型芯片通道拐角处分别通入空气,这样各通道烟气可逐步稀释,从而可形成梯度。由于在研究过程中,实验是以在出口处形成一个负压实现气体进入通道的,因此这种情况下根据通道内压力分布,接近出口处拐角的空气更易进入通道,烟气会很少进入,从而造成烟气量的不足。实验同样以烟气暴露后,DHE荧光染色观察,结果如图5.11所示。由图可看出荧光强度很弱且没有明显梯度变化,说明烟气剂量不足,因此这种结构同样也不能用于细胞烟气暴露研究。

芯片结构C,同A结构类似,一边通烟气,另一边通空气,区别在于这种情况下烟气与空气直接在芯片管道中稀释混合,烟气能够从中间层细胞上方通过进行直接暴露。从理论上来说,该方案既解决了烟气量不足的问题,又能够形成梯度,实验同样以烟气暴露后,DHE荧光染色观察,结果如图5.12所示。由图可看出ROS荧光强度依次递增,说明烟气在芯片中呈梯度变化,因此这种结构可用于细胞烟气暴露研究。

图5.11 上层芯片结构B烟气暴露后细胞ROS荧光图

图5.12 上层芯片结构C烟气暴露后细胞ROS荧光图

综上所述,可知只有结构C的上层芯片能够实际实现芯片上烟气梯度的暴露。究其原因,结构A能够产生梯度,但是这种情况下烟气量明显不足;结构B虽然可使烟气从细胞上方通过,但是这种结构会使烟气进入管道的量很少,烟气量明显不足。而结构C,既能够保证烟气量,又能够形成梯度,同时烟气自细胞上方通过直接与细胞进行接触,这与细胞暴露烟气的实际状况相符合。因此,实验选用结构C作为上层芯片。其制作过程如上所示,得到的芯片模板实物图如图5.13所示。

图5.13 上层芯片PET模板(每层60μm,共12层,芯片管道深度720μm)

(1)表征方法 对于气体梯度表征,实验使用二氧化碳气体,结合溴百里酚蓝的碱性溶液作为指示剂来指示气体梯度的形成[33],原理如上所述。

具体过程:①使用PBS配制的浓度为2%低熔点琼脂糖凝胶(m/V),使溶解呈液态。②使用移液枪,在每个孔中点加0.7μL凝胶,放置4℃冰箱中5min,待凝胶固化。③将配好的呈碱性的溴百里酚蓝溶液在每个孔中点加0.7μL,室温放置10min,溴百里酚蓝溶液渗入凝胶中。④将芯片贴合,以4mL/min的流速、20min暴露时间,于两个进气口,一边通二氧化碳、一边通空气。⑤在直筒显微镜下,监测凝胶颜色变化。⑥使用Image J软件对各通道凝胶进行色度分析,分析其梯度变化。

(2)结果分析 如图5.14所示为得到的芯片气体梯度颜色变化图,使用Image J软件对各通道凝胶对其进行色度分析,作得右侧图5.14(2)线性变化图,横坐标1、2、3、4对应于图5.14(1)中各通道,纵坐标是各通道凝胶颜色色度值大小;线性拟合得到直线方程:Y=32.85X-30.55,R2=0.9936,可看出线性变化良好,说明此芯片平台可形成稳定的线性变化。此上层芯片对于气体而言可形成良好的线形变化,可用于烟气刺激细胞实验。

图5.14 上层芯片气体梯度表征

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