理论教育 双重梯度条件下的细胞毒性和氧化应激损伤检测的三明治结构芯片设计方案

双重梯度条件下的细胞毒性和氧化应激损伤检测的三明治结构芯片设计方案

时间:2023-06-18 理论教育 版权反馈
【摘要】:芯片一侧为液体A,以蓝色表示,另一侧为液体B,以白色表示。如图5.7所示右侧,为三层芯片依次贴合而形成的完整芯片结构。实验拟构建“三明治结构”芯片,同时实现气、液双重梯度条件下的细胞毒性和氧化应激损伤检测。图5.7 芯片设计构想图

双重梯度条件下的细胞毒性和氧化应激损伤检测的三明治结构芯片设计方案

本实验构建了一个“三明治结构”芯片用于实现气液双重梯度下细胞的培养和烟气刺激研究。该芯片设计分为三层结构,上层为气体管道层,中间层为细胞培养孔阵列,下层为液体管道层。同时,上层气体管道与下层液体管道都可以形成梯度条件,能够实现双重梯度下对细胞的原位高通量检测。具体如下所述:

上层芯片为气体管道层。该层主要利用自由扩散在芯片层中形成气体梯度,并对中间层固定的细胞气体暴露。设计构想如图5.7所示中上层芯片所示。芯片一侧通气体A,以红色表示,另一侧通气体B,以白色表示;两路气体在中间管道中相互混合相互稀释,以形成气体梯度,如图中由红色到无色的变化趋势。同时上层芯片的气体管道与中间层细胞培养孔垂直对应,可使不同浓度梯度的气体暴露于细胞。

中间层芯片为细胞层孔阵列结构,设计构想如图5.7中中间层芯片所示,红色4×4孔阵列,即为细胞培养孔。中间层细胞培养孔与上、下层芯片管道垂直对应,能够实现不同条件下的细胞暴露,并可实现细胞的原位检测。

下层芯片为液体管道层。该层主要利用液体的自由扩散在芯片层中形成梯度,并对中间层固定的细胞进行液体暴露。设计构想如图5.7中下层芯片所示。芯片一侧为液体A,以蓝色表示,另一侧为液体B,以白色表示。两路液体在中间管道中相互混合相互稀释,以形成液体梯度,如图中由蓝色到无色的变化趋势。同时下层芯片的液体管道与中间层细胞培养孔垂直对应,可使不同浓度梯度的液体暴露于细胞。(www.daowen.com)

如图5.7所示右侧,为三层芯片依次贴合而形成的完整芯片结构。实验拟构建“三明治结构”芯片,同时实现气、液双重梯度条件下的细胞毒性和氧化应激损伤检测。

图5.7 芯片设计构想图

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