理论教育 集成门电路的逻辑功能测试及变换方法

集成门电路的逻辑功能测试及变换方法

时间:2023-06-18 理论教育 版权反馈
【摘要】:1)实验目的掌握门电路的逻辑功能及其测试方法。2)实验内容测试与非门、与或非门以及异或门的逻辑功能。表4.2逻辑函数真值表用示波器观察与非门和或非门的封门条件和特点。图4.12三种逻辑门功能测试电路表4.374LS20逻辑功能表4.474LS51逻辑功能表4.574LS86逻辑功能首先写出Z1和Z2的最简与或式和最简或非式,用两次求反法求出它们的与非-与非式。

集成门电路的逻辑功能测试及变换方法

1)实验目的

(1)掌握门电路的逻辑功能及其测试方法。

(2)掌握常用逻辑门的变换方法。

(3)熟悉和掌握门控的基本概念。

2)实验内容

(1)测试与非门(74LS20)、与或非门(74LS51)以及异或门(74LS86)的逻辑功能。

(2)分别用与非门和或非门实现真值表如表4.2所示的逻辑函数,画出逻辑图,并验证它们的逻辑功能。可用TTL门或CMOS门,任选一种。

表4.2 逻辑函数真值表(Z1、Z2

(3)用示波器观察与非门和或非门的封门条件和特点。观察异或门的控制特点,掌握门控的概念。

3)实验内容

(1)三种逻辑门功能测试电路示意图分别如图4.12(a)、(b)、(c)所示。首先分别按照电路连线(图中K1~K4为逻辑电平开关);然后,分别按照下面三个表格的输入条件,测试电路的输出(发光二极管亮代表输出为“1”;发光二极管灭代表输出为“0”),并填入相应表格中。

图4.12 三种逻辑门功能测试电路

表4.3 74LS20逻辑功能

表4.4 74LS51逻辑功能

表4.5 74LS86逻辑功能

(2)首先写出Z1和Z2的最简与或式和最简或非式,用两次求反法求出它们的与非-与非式。画出逻辑图,按图接好实验电路,A、B、C接逻辑电平开关,Z1、Z2接发光二极管。测试结果,验证是否与给定真值表相符。

由表4.2给定的真值表,可写出表达式:

由表达式可画出如图4.13所示的卡诺图,可化简Z1、Z2的逻辑函数为:(www.daowen.com)

再将Z1、Z2按要求化简为与非-与非式。

图4.13 Z1、Z2的卡诺图

(3)测试电路图如图4.14(a)、(b)、(c),观察并画出波形图(CH1、CH2均置DC挡),完成图4.15。

图4.14 观察门控波形测试电路图

图4.15 观察门控波形图

4)实验设备

(1)双踪示波器(YB4320C)        一台

(2)直流稳压电源(YB1732C2A)一台

(3)数字电路实验系统(SDS-Ⅵ)一台

(4)与非门74LS20(四输入端双与非门)、异或门74LS86(二输入端四异或门)及与或非门74LS51的管脚图如下:

图4.16 74LS20管脚排列图

图4.17 74LS86管脚排列图

图4.18 74LS51管脚排列图

5)思考题

(1)与门、或门的开关条件及特点是什么?异或门的控制特点是什么?

(2)在与或非门中如果有不用的与门,其输入端应如何处理?

(3)与或式变换为或与式的方法是什么?

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