1024.发射机（变送器）输出端应有定向耦合器或类似的信号敏感/衰减技术，以用于BIT或脱机测试监控（或两种兼用）。

1025.如果射频发射机使用脱机ATE测试的话，应在适当的地点安装测试（微波暗室、屏蔽室），以便在规定的频率和功率范围内准确地测试所以项目。

1026.为准确模拟要测试的所有RF信号负载要求，在脱机ATE或BIT电路中应使用适当的终端负载装置。

1027.在脱机ATE内应提供转换测试射频被测单元所需的全部激励和响应信号。

1028.为补偿测量数据中的开关和电缆导致的误差，脱机ATE或BIT的诊断软件应提供调整UUT输入功率（激励）和补偿UUT输出功率（响应）的能力。

1029.射频的UUT使用的信号频率和功率应不超出ATE激励/测量能力，如果超出，ATE内应使用信号变换器，以使ATE与UUT兼容。

1030.RF测试I/O接口部分，在机械上应与脱机ATE的I/O部分兼容。(www.daowen.com)

1031.UUT与ATE的RF接口设计，应保证系统操作者不用专门工具就可迅速且容易地连接和断开UUT。

1032.RF类UUT设计应保证无需分解就能完成任何组件或分组件的修理或更换。

1033.应提供充分的校准UUT的测试性措施（可控性和可观测性）。

1034.应建立RF补偿程序和数据库，以便用于校准使用的所有激励信号和通过BIT或脱机ATE到UUT接口测量的所有响应信号。

1035.在RF类UUT接口处每个要测试的RF激励/响应信号，均应明确规定。