理论教育 一般原则:故障隔离、独立电源与重复测试能力

一般原则:故障隔离、独立电源与重复测试能力

时间:2023-06-17 理论教育 版权反馈
【摘要】:856.一般测试性结构划分的原则如下:1)有利于故障隔离。862.只要有可能,划分LRU时,应使每个LRU有独立的电源以便故障隔离。系统或设备应能够预置到一个唯一的初始状态,以保证对给定的故障进行重复测试时能得到相同的响应。869.每个被测试的功能所涉及的全部元器件应安装在一块印制电路板上。880.故障检测指示器应位于印制电路板的外露边缘或外路面以便及时发现故障。

一般原则:故障隔离、独立电源与重复测试能力

855.应根据如下条件合理选择测试的方式(如手动测试、机内测试、半自动测试、自动测试等):

1)被测系统的性质(如电子系统、机械系统、光学系统、液压气动系统或复合系统等)和效能。

2)属于性能特点的任务关键性。

3)需测试项目的复杂度

4)测试的准确度和精度要求。

5)测试的数量与频度。

6)人员的技术水平。

7)费用。

856.一般测试性结构划分的原则如下:

1)有利于故障隔离。

2)UUT的最大插针数与ATE接口能力一致。

3)在不影响功能划分基础上,尽量使模拟电路和数字电路分开。

4)尽量将功能不能明确划分的一组电路和元器件装在同一个可更换单元中。

857.一个可更换单元最好只实现一个功能。如果用一个可更换单元实现多个功能,应保证能对其每个功能进行单独测试。

858.由于反馈不能断开、信号扇出关系等不能做到唯一性隔离时,应尽量将属于同一个隔离模糊组的电路和部件封装在同一个可更换单元中。

859.如有可能,应尽量将数字电路、模拟电路、射频电路、高压电路分别划分为单独的可更换单元。

860.如有可能,应按可靠性和费用进行划分,即把高故障率或高费用的电路和部件划分为一个可更换单元。

861.最好将所有的数字逻辑划分在单独的现场可更换单元(LRU);最好将所有的高压电路划分在单独的LRU;最好将所有的射频逻辑划分在单独的LRU。

862.只要有可能,划分LRU时,应使每个LRU有独立的电源以便故障隔离。

863.在一个功能中,每块被测试电路的规模应尽可能小,以便经济地进行故障检测和隔离。

864.在混合功能中,数字电路和模拟电路应能分别进行测试。

865.冗余元器件应能进行独立测试。

866.注意隔离,以保证测试电路故障时不致引起被测试电路发生故障。

867.系统或设备应该从确定的初始状态开始故障隔离。如果没有达到正确的初始状态,应将这种情况与足够的故障隔离特征数据一起报告操作员。系统或设备应能够预置到一个唯一的初始状态,以保证对给定的故障进行重复测试时能得到相同的响应。

868.应尽量利用阻塞门、三态器件或继电器等把正在测试的电路同暂不测试的电路隔离,以缩短测试时间。

869.每个被测试的功能所涉及的全部元器件应安装在一块印制电路板上。

870.如果需要,上拉电阻应与驱动电路安装在同一PCB上。

871.为了易于与测试设备兼容,模拟电路应按频带划分。(www.daowen.com)

872.部件引脚的最大编号应与自动测试设备的接口相一致。

873.测试所需的电源类型和数目应与测试设备相一致。

874.测试要求的激励源的类型和数目应与测试设备相一致。

875.模糊组中的元器件应放在同一封装内。

876.应尽量使用现有的连接器插针进行测试控制和测试观测。对于高密度的电路和印制电路板,可优先选用多路转换器和移位寄存器等电路,免得增加插针。

877.条件允许时,使用空的I/O引脚作为到内部节点(不可达的)的通道。

878.提供专用测试输入信号、数据通路和电路,使测试系统(BIT和ATE自动测试设备)能够控制产品内部的元器件工作,来检测和隔离内部故障。应特别注意对时钟线、清零线、反馈环路的断开以及三态器件的独立控制。

879.模件在工作条件下应能自行测试或易于测试,最好能不用特殊的工具或电缆

880.故障检测指示器应位于印制电路板的外露边缘或外路面以便及时发现故障。

881.所有关于正常运转的指示灯均应易于查看。

882.声响和视觉警报装置要容易进行测试。

883.测试流程不应要求技术人员退回原步骤或重复调整。

884.在测试设备或其盖内要留有放置测试电缆、附件和特殊工具的地方。

885.在一个标准信号发生器内,应有一切必要的标准输入。

886.所有输入、输出信号应与TTL相兼容。

887.每一次调整只应与唯一的控制器有关。

888.如果为了达到系统可用性和安全性指标,要求系统在某些故障情况下继续运行,那么应该把容错设计与测试性设计结合在一起考虑。

889.设备冗余或功能冗余可以用于辅助测试。测试性设计应为冗余电路提供独立的测试能力,进行故障评定、重构降级模式和配置检验时应尽量使用测试资源。

890.对测试电路应提供保护,以防因测试点外部接地而使设备故障。

891.应设置过载或去耦保护装置,以防止产品可能产生超过规定容限的信号或特性而损坏测试设备。

892.除非另有规定,否则测试仪表应采取过载旁路或备用保护措施,以防止测量仪表故障时,在接线端产生高电压或大电流。

893.在所有多导线电缆中至少应提供10%的备用导线,以便在任何连接器断开后,可以在每个LRU的终端进行快速的重新布线而无需拉出较长的电缆。

894.应避免测试时间和预热时间过长(如超过10min),否则应采取相应措施。

895.对关键功能应提供余度电路,以便在不中断系统主功能的情况下对脱机部分进行测试。

896.应提供可中断所有反馈回路的方法;应提供访问采用扫描技术电路的方法;应为系统提供自校准能力。

897.尽量采用机内测试方案或便携式测试设备。当可用通用设备时,就不要使用专用设备。

898.提供测试所需的文件和规范。

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