（1）探头 通常采用线聚焦斜探头和双晶斜探头，其性能应能满足检测要求。探头频率一般采用5MHz。探头主声束轴线水平偏离角不应大于2°。斜探头K值的选取可参照表8-8的规定。如有必要，也可采用其他K值的探头。探头楔块的曲面应加工成与管子外径相吻合的形状。加工好曲面的探头应对其K值和前沿值进行测定，要求一次波至少扫查到焊接接头根部。

表8-8 斜探头K值的选择

为保证一次波能扫查到焊缝根部，应对探头前沿长度予以限制，一般要求前沿长度≤10mm，常用5～8mm。为了减少散射的不利影响，晶片尺寸不宜太大，而且要求晶片装配时对中精度较高。目前，在实际检测中常用的晶片尺寸为6mm×6mm、8mm×8mm等几种。

（2）试块

1）试块应采用与被检工件声学性能相同或近似的材料制作，该材料用直探头检测时，不得有直径大于或等于ϕ2mm平底孔当量直径的缺陷存在。(www.daowen.com)

2）试块的曲率应与被检工件相同或相近，其曲率半径之差不应大于被检管径的10%。采用的试块型号为GS—1、GS—2、GS—3、GS—4，其形状和尺寸应分别符合图8-39和表8-9的规定。GS—1型试块适用于曲率半径为16～24mm的承压设备管子和压力管道环向对接焊接接头的检测；GS—2型试块适用于曲率半径为24～35mm的承压设备管子和压力管道环向对接焊接接头的检测；GS—3型试块适用于曲率半径为35～54mm的承压设备管子和压力管道环向对接焊接接头的检测；GS—4型试块适用于曲率半径为54～80mm的承压设备管子和压力管道环向对接焊接接头的检测。

图8-39 GS系列试块的形状和尺寸

表8-9 试块圆弧曲率半径 （单位：mm）