理论教育 灵敏度调整与缺陷检测优化方案

灵敏度调整与缺陷检测优化方案

时间:2023-06-17 理论教育 版权反馈
【摘要】:斜探头的灵敏度使用自然的(非人工)平面型缺陷或垂直于表面且远大于声束的侧壁来校核,探头底面要尽量与铸钢件表面形状吻合。对于深度超过50mm的补焊区,应使用其他合适的斜探头补充检测。在调整斜探头灵敏度时,应使反射体在显示屏上清晰地显示典型的动态回波壁厚分区如图7-27所示。

灵敏度调整与缺陷检测优化方案

1.灵敏度的调整

在调整扫描速度范围后进行灵敏度的调整。灵敏度的调整方法有以下两种:

(1)距离幅度校正曲线法(DAC)距离幅度校正曲线法是用一系列相同反射体(平底孔FBH或横孔SDH)的回波高度得出的。每个反射体有不同的声程,通常采用2~2.5MHz的频率和直径为6mm的平底孔校正。

(2)距离增益尺寸法(DGS)距离增益尺寸法是用一系列理论上计算出的声程、仪器增益、垂直于声束轴线的平底孔直径的关系得出的。

2.缺陷的检测

为了便于探测缺陷,应将增益一直提高到显示屏上可见噪声水平线(扫查灵敏度)。

表7-11给出的平底孔或相当横孔的直径,在检测的最大厚度范围内,回波高度不低于显示屏满刻度的40%

在检测过程中,如果怀疑由缺陷引起的底波衰减量超出规定的记录值,则应降低检测灵敏度,准确测定底波衰减的dB值。

7-11 记录值

①平底孔直径转换成横孔直径的公式见式(7-1)。

平底孔直径和横孔直径的转换公式为

式中 DQ——横孔直径(mm);

DFBH——平底孔直径(mm);

λ——波长(mm);

s——声程(mm)。(www.daowen.com)

式(7-7)仅适用于DQ≥2λs大于或等于5倍近场区长度,用单晶探头检测的场合。

斜探头的灵敏度使用自然的(非人工)平面型缺陷(裂纹尺寸在壁厚方向)或垂直于表面且远大于声束的侧壁来校核,探头底面要尽量与铸钢件表面形状吻合。

铸钢件供方应明确所用的检测工艺规范,在特定条件下要编制书面协议。此外,当供需双方没有其他约定时,应使用双晶直探头和斜探头检测铸钢件重要区域(如内圆角、变截面、加外冷铁处)、补焊区、准备焊接区、涉及铸钢件重要性能的特殊外层等深度在50mm内的区域。

对于深度超过50mm的补焊区,应使用其他合适的斜探头补充检测。斜探头的角度大于60°,声程不应超过150mm。

探头的扫查应有重叠,重叠率应不大于直径或边长的15%;应有规律地扫查所有被检区域,扫查速度应不超过150mm/s。

在调整斜探头灵敏度时,应使反射体在显示屏上清晰地显示典型的动态回波壁厚分区如图7-27所示。壁厚方向上缺陷的尺寸如图7-28所示。

图7-27 壁厚分区

1—外层 2—内层 t—壁厚 at/3(最大30mm)

图7-28 壁厚方向上缺陷的尺寸

a)断续反射

α—折射角s1s2—声程 y—回波高度 t—壁厚 d—壁厚方向上的缺陷尺寸 d=(s2-s1)cosα

图7-28 壁厚方向上缺陷的尺寸(续)

b)连续反射

α—折射角 s1s2—声程 y—回波高度 t—壁厚 d—壁厚方向上的缺陷尺寸 d=(s2-s1)cosα

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