理论教育 评定未接合缺陷的缺陷指示长度

评定未接合缺陷的缺陷指示长度

时间:2023-06-17 理论教育 版权反馈
【摘要】:缺陷指示长度的评定 对于单个缺陷,将其指示的最大长度作为该缺陷的指示长度。图5-21 双晶直探头所得复合良好区域的波形图5-22 双晶直探头所得复合不好区域的波形图5-23 双晶直探头所得完全未复合区域的波形未接合区的测定方法:1)当从复板一侧检测时,采取全波消失法测定缺陷界限,未接合部分的宽度和长度从换能器内侧算起。3)未接合缺陷的等级分类见表5-7。面积小于900mm2的未接合缺陷不计个数。

评定未接合缺陷的缺陷指示长度

(1)缺陷指示长度的评定 对于单个缺陷,将其指示的最大长度作为该缺陷的指示长度。缺陷长度或宽度的测定如图5-12所示。若单个缺陷的指示长度小于25mm,则可不作记录。

(2)缺陷面积的评定 对于多个相邻的未接合区,当其最小间距小于或等于20mm时,应作为单个未接合区处理,其面积为各个未接合区面积之和。未接合缺陷常见波形如图5-13和图5-14所示。

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图5-12 缺陷长度或宽度的测定

P—探头 C—换能器 L—缺陷的长度或宽度

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图5-13 未接合缺陷常见波形(从母材侧检测)

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图5-14 未接合缺陷常见波形(从复合层侧检测)

(3)未接合率的评定 未接合区总面积占复合板总面积的百分比称为未接合率。图5-15~图5-20分别给出了两种扫描比例复合层不同接合状态的波形。

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图5-15 复合良好区域的波形(一)

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图5-16 复合不好区域的波形(一)

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图5-17 完全未复合区域的波形(一)

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图5-18 复合良好区域的波形(二)

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图5-19 复合不好区域的波形(二)

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图5-20 完全未复合区域的波形(二)

图5-21~图5-23所示为采用双晶直探头直接法从复板侧检测时的几种常见波形。

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图5-21 双晶直探头所得复合良好区域的波形

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图5-22 双晶直探头所得复合不好区域的波形

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图5-23 双晶直探头所得完全未复合区域的波形

未接合区的测定方法:

1)当从复板一侧检测时,采取全波消失法测定缺陷界限,未接合部分的宽度和长度从换能器内侧算起。

2)当从基板一侧检测时,采用半波高度法确定缺陷界限,未接合部分的长度和宽度从换能器中心算起。

3)未接合缺陷的等级分类见表5-7。

5-7 未接合缺陷的等级分类

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注:当两个缺陷之间的最小距离≤20mm时,其缺陷面积应为两个缺陷面积之和。面积小于900mm2的未接合缺陷不计个数。

4)复合板的判废标准执行相关技术标准,一般边沿500mm及破口线两侧各25mm进行100%的检测,不允许存在未接合区域。

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