1.单探头法

将一个探头用于发射和接收超声波的检测方法称为单探头法。单探头法操作方便，可以检出大多数缺陷，是目前最常用的一种方法。单探头法对与波束轴线垂直的片状缺陷和立体型缺陷的检出效果最好，难以检出与波束轴线平行的片状缺陷。当缺陷与波束轴线倾斜时，根据倾斜角度的大小，能够收到部分回波，或者因反射波束全部反射在探头之外而无法检出。

2.双探头法

使用两个探头（一个用于发射，一个用于接收）进行检测的方法称为双探头法。根据两个探头的排列方式和工作方式，双探头法可进一步分为并列式、交叉式、V形串列式、K形串列式、串列式等。

1）并列式：两个探头并列放置，检测时两者做同步同向移动。当直探头并列放置时，通常是一个探头固定，另一个探头移动，以便发现与检测面倾斜的缺陷，如图4-5a所示。分割式探头就是将两个并列的探头组合在一起，具有较高的分辨力和信噪比，适用于薄工件、近表面缺陷的检测。

图4-5 双探头的排列方式

a）并列式 b）交叉式 c）V形串列式 d）K形串列式 e）串列式(www.daowen.com)

2）交叉式：两个探头轴线交叉，交叉点为要检测的部位，如图4-5b所示。此种检测方法可用来发现与检测面垂直的片状缺陷，在焊缝检测中，常用来发现横向缺陷。

3）V形串列式：两探头相对放置在同一面上，一个探头发射的声波被缺陷反射，反射的回波刚好落在另一个探头的入射点上，如图4-5c所示。此种检测方法主要用来发现与检测面平行的片状缺陷。

4）K形串列式：两探头以相同的方向分别放置于工件的上下表面上，一个探头发射的声波被缺陷反射，反射的回波进入另一个探头，如图4-5d所示。此种检测方法主要用来发现与检测面垂直的片状缺陷。

5）串列式：两探头一前一后，以相同方向放置在同一表面上，两个探头间距为1倍跨距，一个探头发射的声波被缺陷反射，反射的回波经底面反射进入另一个探头，声束轴均在与检测面相垂直的同一平面内的斜射探头进行扫查，如图4-5e所示。此技术主要用于检测垂直于检测面的不连续。

3.多探头法

将两个以上的探头成对地组合在一起进行检测的方法称为多探头法。多探头法主要是通过增加声束来提高检测速度或发现各种取向的缺陷，通常与多通道仪器和自动扫描装置配合应用。