超声检测系统能够把距探头不同距离的两个邻近缺陷在示波屏上作为两个回波区别出来的能力，称为纵向分辨力。示波屏上区分相邻二缺陷的距离越小，纵向分辨力就越高。纵向分辨力主要取决于超声脉冲的时间宽度。

探头沿探伤面水平移动时，超声检测系统区分两个相邻缺陷的能力称为横向分辨力，横向分辨力主要取决于声束的宽度。

下面介绍纵向分辨力的测定方法。

1.纵波直探头分辨力测定

将直探头放于CSK-ⅠA试块R100mm圆心位置，如图6-3a所示。“抑制”为0，左右移动探头，使屏上出现85mm处、91mm处、100mm处的反射波：A、B、C波，将A、B等高，并为20%～30%满刻度高度，如图6-3b所示，A、B两波峰间的波谷为h₂、A、B波高为h₁，按式（6-3）求纵波直探头分辨力值X，单位为dB。X值越大，分辨力越高。

图6-3 直探头分辨力测定

X=20lg（h₁/h₂）（6-3）

也可以直接通过仪器测量分辨力：调节仪器衰减器，使A、B两波峰间的波谷上升到原来波峰高度h₁，此时衰减器所释放的dB数即为以dB值来表示的超声检测系统直探头的分辨力X。(www.daowen.com)

2.横波斜探头分辨力测定

将仪器抑制置于0。根据探头折射角，将探头置于图6-4a中CSK-ⅠA试块A位置或B位置，移动探头使来自ϕ50mm和ϕ44mm二孔的回波A、B高度相等，并为20%～30%满刻度高度，如图6-4b中h₁；A、B两波峰间的波谷深度为h₂，按式（6-4）求横波斜探头分辨力值Z，单位为dB。

Z=20lg（h₁/h₂） （6-4）

也可以直接通过仪器测量分辨力：调节衰减器，使A、B两波峰间的波谷上升到原来波峰h₁，此时衰减器所释放的dB数即为以dB值来表示的超声检测系统斜探头的分辨力。

不同方法标准对所用仪器和探头的分辨力提出了相应的要求，如NB/T 47013—2015规定：直探头的远场分辨力应不小于20dB，斜探头的远场分辨力应不小于12dB。

图6-4 斜探头分辨力测定