理论教育 横波斜探头定位技术检测平面工件

横波斜探头定位技术检测平面工件

时间:2023-06-17 理论教育 版权反馈
【摘要】:横波斜探头检测时缺陷位置根据折射角和声程来确定,方法有声程定位法、水平定位法和深度定位法三种。一次波检测时,缺陷在工件中的水平距离lf和深度df为二次波检测时,缺陷在工件中的水平距离lf和深度df为当发现缺陷波后,应根据缺陷波的水平刻度与工件厚度与探头K值的乘积的关系来推测是几次波发现缺陷的。

横波斜探头定位技术检测平面工件

横波斜探头检测时缺陷位置根据折射角和声程来确定,方法有声程定位法、水平定位法和深度定位法三种。仪器水平刻度可分别按回波所走的声程、缺陷的水平位置、缺陷的深度位置来调节。

1.声程定位法

仪器按声程1∶n调节横波扫描速度,缺陷波水平刻度为τf。下面分别讨论用一次波和二次波检测的情形。

一次波检测时,如图4-13a所示,入射点到缺陷的声程为

xf=f (4-6)

则缺陷在工件中的水平距离lf和深度为df

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二次波检测时,如图4-13b所示,入射点到缺陷的声程仍为

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图4-13 横波检测定位

xf=f (4-8)缺陷在工件中的水平距离lf和深度为df

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式中 t——工件厚度;

β——横波折射角。

2.深度定位法

仪器按深度1:n调节横波扫描速度,缺陷波水平刻度为τf,采用K值探头。下面分别讨论用一次波和二次波检测的情形。(www.daowen.com)

一次波检测时,缺陷在工件中的水平距离lf和深度df

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用一次横波检测发现缺陷时,在扫描速度为1∶1的情况下,缺陷波所对应的刻度就是缺陷的深度,该深度值必定小于或等于工件的厚度。

二次波检测时,缺陷在工件中的水平距离lf和深度df

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当发现缺陷波后,应根据缺陷波的水平刻度与工件厚度的关系来推算是几次波发现缺陷的,这一点很重要。

3.水平定位法

仪器按水平1:n调节横波扫描速度,缺陷波水平刻度为τf,采用K值探头。下面分别讨论用一次波和二次波检测的情形。

一次波检测时,缺陷在工件中的水平距离lf和深度df

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二次波检测时,缺陷在工件中的水平距离lf和深度df

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当发现缺陷波后,应根据缺陷波的水平刻度与工件厚度与探头K值的乘积的关系来推测是几次波发现缺陷的。

对数字仪而言,调节好扫描速度后,检测中只需用闸门套住缺陷波就可在显示屏上直接读出缺陷离探头入射点的声程、离检测面的埋深及离探头前端面的水平距离。

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