理论教育 探头数量分类方法优化

探头数量分类方法优化

时间:2023-06-17 理论教育 版权反馈
【摘要】:单探头法一般属于脉冲反射法。单探头法容易检出与波束轴线垂直的片状缺陷和立体状缺陷。主要用于发现单探头难以检出的缺陷。双探头并列式检测是分割式探头的制作原理。金属板材、管材、棒材的自动检测大多采用多探头法,除能提高检测效率外,还能根据需要检出不同类型和不同取向的缺陷。

探头数量分类方法优化

1.单探头法

使用一个探头兼作发射和接收超声波的检测方法称为单探头法,单探头法最常用。

单探头法一般属于脉冲反射法。单探头法容易检出与波束轴线垂直的片状缺陷和立体状缺陷。当缺陷走向与波束轴线成其他角度甚至平行时,仅用单探头则很难检测出。

2.双探头法

双探头法是使用两个探头检测,两个探头的作用分别是发射超声波和接收超声波。主要用于发现单探头难以检出的缺陷。

下面列出了几种可供选用的双探头检测方法。

(1)并列式检测 如图4-4所示,两个探头放置在工件同侧,一个探头发射超声波,另一个接收超声波。用以发现与探测面成某一角度的缺陷。双探头并列式检测是分割式探头的制作原理。

(2)串列式检测 如图4-5所示,两探头一前一后放置于工件同一表面(对比并列式,看看有什么不同)。一个探头发射超声波,另一个接收超声波。该方法比较常用,可以检测出与探测面相垂直的面状缺陷。

(3)交叉式检测 如图4-6所示,两个探头的声波轴线互相交叉,交叉点为待检测部位。该方法可以检测出与探测面垂直的片状缺陷,在焊缝检测中则能发现横向缺陷。

(4)K式检测 如图4-7所示,两个探头以相同的方向分别放置于试件的上下表面。探头的作用与前面几种一样,都是作声波发射和接收用。该方法能够用来发现与探测面垂直的片状缺陷。

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图4-4 并列式检测(www.daowen.com)

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图4-5 串列式检测

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图4-6 交叉式检测

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图4-7 K式检测

上面描述的双探头法虽然从上述图形看,似乎可以检测出各种取向的缺陷,但实际缺陷的取向是随机的,而探头的某种摆放方式只能发现某个取向的缺陷,故实际操作难度较大,在实际检测中应用并不多。实际应用最多的还是双晶探头法,包括双晶直探头法和双晶斜探头法。

3.多探头法

使用两个以上的探头进行检测的方法,称为多探头法。使用多探头的目的主要是通过增加入射声束数量和方向来提高检测速度和检测效率,图4-8是多探头法检测钢板示意图。多探头法通常在多通道仪器和自动扫描装置的配合状态下使用。金属板材、管材、棒材的自动检测大多采用多探头法,除能提高检测效率外,还能根据需要检出不同类型和不同取向的缺陷。

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图4-8 多探头法检测钢板示意图

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