理论教育 开关拓扑结构的优化设计

开关拓扑结构的优化设计

时间:2023-06-16 理论教育 版权反馈
【摘要】:本书假设在实际测试过程中可能面临两种测试模式:1-Wire 8×16测试模式和2-Wire 4×16测试模式,因此基于开关设备接线盒设计了两种拓扑结构,其具体实物如图6-9所示。图6-112-Wire 4×16模式拓扑结构设计测试信号和传感器特征参数信息分别经由模块J5-SIGNAL和J6-TZCS传输到接线盒输入端,其中输入端每条通道都包含2条正负传输线路,其中正极连接信号线,负极连接参数线;输出端与模块CESHI 3相连,经过电路板走线,与模块CESHI 1和TZCS相连。

开关拓扑结构的优化设计

本书假设在实际测试过程中可能面临两种测试模式:1-Wire 8×16测试模式和2-Wire 4×16测试模式,因此基于开关设备接线盒设计了两种拓扑结构,其具体实物如图6-9所示。由于实验室硬件条件,在设计中要求接线盒部分引脚同时连接信号线和特征参数线。

图6-9 开关设备接线盒

(a)1-Wire 8×16测试模式接线盒;(b)2-Wire 4×16测试模式接线盒

1-Wire 8×16测试模式,设计该模式下开关的拓扑结构,如图6-10所示。模拟信号和传感器特征参数分别经由模块J5-SIGNAL和J6-TZCS传输到接线盒输入端,其中输入端全部引脚同时连接2根导线,分别传输测试信号和特征参数;输出端与模块CESHI 2相连,经过电路板走线,与模块CESHI 1和TZCS相连。1-Wire 8×16模式下接线盒与集线模块间连接关系如表6-5所示,其中输出端的7路通道(R0~R6)用于传输测试信号,第8路通道(R7)用于传输特征参数,因此振动信号采集卡共有7路通道可以被调用。

图6-10 1-Wire 8×16模式拓扑结构设计

表6-5 1-Wire 8×16模式下接线盒与集线模块间连接关系

2-Wire 4×16测试模式,设计该模式下开关的拓扑结构,如图6-11所示。

图6-11 2-Wire 4×16模式拓扑结构设计(www.daowen.com)

测试信号和传感器特征参数信息分别经由模块J5-SIGNAL和J6-TZCS传输到接线盒输入端,其中输入端每条通道都包含2条正负传输线路,其中正极连接信号线,负极连接参数线;输出端与模块CESHI 3相连,经过电路板走线,与模块CESHI 1和TZCS相连。2-Wire 4×16模式下矩阵开关与集线模块间连接关系如表6-6所示,其中输出端全部4路通道的正极(R0+~R3+)用于传输测试信号,负极(R0-~R3-)用于传输特征参数,因此振动信号采集卡共有4路通道可以被调用。

表6-6 2-Wire 4×16模式下矩阵开关与集线模块间连接关系

免责声明:以上内容源自网络,版权归原作者所有,如有侵犯您的原创版权请告知,我们将尽快删除相关内容。

我要反馈