理论教育 探析下一代光刻技术的发展趋势

探析下一代光刻技术的发展趋势

时间:2023-06-16 理论教育 版权反馈
【摘要】:近年,浸入式光刻发展非常迅猛,并获得了产业界持续发展的信心。在ITRS2004版本中,已经取消电子束投影光刻技术作为45 nm节点以后的可能解决方案。在ITRS2003版本中,已经将离子束投影光刻技术撤销。如果配合浸入式光刻技术,可能将推至22 nm的水平。

探析下一代光刻技术的发展趋势

1.浸入式光刻技术(Immersion Lithography)

由公式R=k·λ/(NA)==kλ/(n·sinα),空气的折射率为1,水的折射率为1.47(相对于193 nm的深紫外光而言),所以,用水来代替空气,可以提高光刻系统的数值孔径(Numerical Aperture,NA),最终可以提升分辨率(公式中,k为玻尔兹曼常数,λ为光波波长)。在ITRS2003版本中,增加了浸入式光刻作为45 nm节点的解决方案。近年,浸入式光刻发展非常迅猛,并获得了产业界持续发展的信心。在ITRS2005版本中,已将浸入式光刻列为32 nm甚至22 nm节点的可能解决方案。

面临挑战:气泡问题(Water Bubble);温度不均匀(Temperature Effect)。下一步发展中应致力于研发高折射率的抗蚀剂、高折射率的液体和高折射率的光学材料。

2.深紫外光刻(Deep Ultra-Violet Lithography,DUV)

通过缩小光源的波长来改善分辨率。F2的准分子激光光源为157 nm。有望变成50~70 nm的解决方案。需要同浸入式结合才有可能存在。

面临挑战:易被氧气吸收,需要真空环境;光强比较弱,易被透镜吸收,折射透镜系统设计非常复杂;高灵敏度的光刻胶

3.极紫外光刻(Extreme Ultra-Violet Lithography,EUV)

极紫外光又称作软X射线(Soft X-ray),其波长为11~14 nm,可以大幅提升分辨率。由于极紫外光非常容易被吸收,所以光学系统(透镜等)和掩膜板都要采用反射式传递图形信息。光刻胶为PMMA。在ITRS2005版本中,已将EUV光刻列为32 nm、 22 nm甚至16 nm节点的可能解决方案。

挑战:极紫外光容易被吸收,必须处于真空环境;掩膜板很特殊,制作困难;设备的成本很高。

4.电子束直写光刻(Electron Beam Direct-Write Lithography,EBL)

电子束的能量越高,波长越短,一般为0.1 nm。利用尺寸非常小的电子束在光刻胶上直写,不需要掩膜板,可以用电磁场聚焦,易于控制,现在常用于掩膜板的制作。光刻胶为PMMA,可以作为10 nm的潜在解决方案。

面临挑战:因为会发生电子散射而产生临近效应;常能低,大概1片/h。

5.电子束投影光刻(Electron Projection Lithography,EPL)(www.daowen.com)

采用掩膜板的电子束投影,其产能比较高,波长约为0.1 nm。在ITRS2004版本中,已经取消电子束投影光刻技术作为45 nm节点以后的可能解决方案。

面临挑战:电子束的散射引起的临近效应。

6.角度限制投影电子束光刻(Scattering with Angular Limitation E-beam Lithography,SCALPEL)

掩膜板的基底材料是铍(Be),阻挡层是金(Au)。通过对入射电子的不同散射,使大散射部分(通过阻挡层的电子)不会让光刻胶曝光。它的掩膜板制作比极紫外光刻容易,具有大的焦深,可以用深紫外光刻胶,具有100 keV的能量。在ITRS2004版本中,已经将PEL光刻技术撤销,因为该技术只是作为地区性的解决方案。

7.离子束投影光刻(Ion-Beam Projection Lithography,IPL)

其与电子束直写光刻技术类似,不需要掩膜板,应用高能粒子束直写。因为粒子束的散射没有电子束那么强,所以具有更好的分辨率,使用PMMA光刻胶。常用于掩膜板的修复,监测和修复IC电路。在ITRS2003版本中,已经将离子束投影光刻技术撤销。面临挑战:粒子束的产生没有电子束容易,产能很低。

8.紫外纳米压印光刻(Ultra-Violet Nanoimprint Lithography,UVNIL)

紫外纳米压印技术是一种高产能、低成本、高分辨率的光刻技术。图形的分辨率直接决定于模板的分辨率。主要工艺过程:模板制作、硅衬底滴胶、压印、曝光、脱模、反映离子蚀刻。图形精度可以达到5 nm。ITRS2005中,紫外纳米压印作为32 nm、22 nm甚至16 nm的潜在解决方案。

9.双重图形光刻(Double Pattering Lithography)

将设计版图分成两块掩膜板以降低光刻图形间距要求的技术。在ITRS2006修正版中,将双重图形光刻作为潜在的45 nm光刻解决方案之一。将一套高密度的电路图分解成为两套独立的、密度低一些的图形。它的基本步骤是先印制一半的图形,显影、蚀刻,然后重新旋涂一层光刻胶,再印制另一半的图形,最后利用硬掩膜或者是选择性蚀刻来完成整个光刻过程。如果配合浸入式光刻技术,可能将推至22 nm的水平。

面临挑战:两次曝光之间的套刻精度;掩膜板的制作;产能降低。

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