【摘要】:根据IPC构成分析结果显示的各技术构成所对应的专利数目,对技术研究现状进行对比分析。根据各IPC分类所对应专利数量的具体数值及相互关系,将对应专利数量相近的IPC分类划入同一技术研究区域;相反,将对应专利数量相差较大的IPC分类划入不同的技术研究区域。设XOY平面表示技术研究区域,每一个研究区域内分别包含一项或几项IPC分类,Z轴正向为技术研究密度增长方向,从Ak到A1的技术研究密集度逐渐升高。
根据IPC构成分析结果显示的各技术构成所对应的专利数目,对技术研究现状进行对比分析。根据各IPC分类所对应专利数量的具体数值及相互关系,将对应专利数量相近的IPC分类划入同一技术研究区域;相反,将对应专利数量相差较大的IPC分类划入不同的技术研究区域。为对技术研究区域进行有效划分,给出如下区域划分依据。
根据表4.1中的统计数据,N1,…,Ni(1≤i≤m),…,Nm间存在关系:N1≥N2≥…≥Nm。Ni,Ni+1分别表示相邻两个技术类别IPCi、IPCi+1对应的专利数量,若(Ni-Ni+1)/Ni+1≥1,即Ni-Ni+1≥Ni+1,则IPCi与IPCj从属于技术研究密度相同的研究区域;反之,当(Ni-Ni+1)/Ni+1<1,即Ni-Ni+1<Ni+1时,IPCi与IPCi+1则属于技术研究密度相邻的技术研究区域。在分别对相邻的技术类别所对应的专利数量进行两两对比后,IPC1,…,IPCi,…,IPCm被划分入技术研究区域A1,…,Ak(1≤k≤m),结果如表4.2中所示。
表4.2 技术研究区域的划分
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假设,IPC1,IPC2被划入同一区域A1;IPC3,IPC4,IPC5被划入同一技术研究密度区域A2;IPCm被划入研究区域Ak,则各技术研究区域、IPC分类及各技术区域的研究密度三者之间的关系如图4.1中所示。设XOY平面表示技术研究区域,每一个研究区域内分别包含一项或几项IPC分类,Z轴正向为技术研究密度增长方向,从Ak到A1的技术研究密集度逐渐升高。
图4.1 技术研究区域的划分
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